Dosje javnega naročila 002707/2020
Naročnik: INSTITUT JOŽEF STEFAN V angl.jeziku: Jožef Stefan Institute, Ljubljana, Slovenia, Jamova cesta 39, 1000 Ljubljana
Blago: NAKUP IN INSTALACIJA SNOM MIKROSKOPA
ZJN-3: postopek naročila male vrednosti
Vrednost naročila (pogodbe in dodatki z DDV): 103.151,00 EUR

JN002707/2020-W01 - Obvestilo o naročilu male vrednosti (NMV1), objavljeno dne 30.04.2020
JN002707/2020-ODL01 - Odločitev o oddaji oz. neoddaji naročila, objavljeno dne 16.06.2020
JN002707/2020-X01 - Obvestilo o oddaji naročila male vrednosti (NMV2), objavljeno dne 28.07.2020
JN002707/2020-Pog01 - Pogodba, objavljeno dne 28.07.2020
Zahtevek za revizijo

    JN002707/2020-W01 Obvestilo o naročilu male vrednosti (NMV1)
   Dodatna pojasnila

Oddelek I: Javni naročnik

Naročilo male vrednosti se oddaja na: splošnem področju
I.1 Ime in naslovi
INSTITUT JOŽEF STEFAN V angl.jeziku: Jožef Stefan Institute, Ljubljana, Slovenia
Jamova cesta 39
1000
SI
Ljubljana
Slovenija
neza.kozina@ijs.si, Neža Kozina Garbajs
neza.kozina@ijs.si
+386 14773517
+386 14773189

Internetni naslovi
http://www.ijs.si

I.2 Skupno javno naročanje
I.3 Sporočanje
Objava je hkrati razpisna dokumentacija: Ne
Razpisna dokumentacija je na voljo brezplačno za neomejen in celovit neposredni dostop na:
URL: https://www.ijs.si/ijsw/Objave
Ponudbe ali prijave za sodelovanje je treba poslati elektronsko na URL: http://eponudbe.si/
na zgoraj navedeni naslov.
I.4 Vrsta javnega naročnika
JAVNI ZAVOD
I.5 Glavna področja dejavnosti
ZNANOST


Oddelek II: Predmet

II.1 Obseg naročila
II.1.1 Naslov
Naslov: NAKUP IN INSTALACIJA SNOM MIKROSKOPA
Referenčna številka dokumenta: JN24/2020
II.1.2 Glavna koda CPV
Glavni besednjak Dopolnilni besednjak
38510000
II.1.3 Vrsta naročila
Blago
II.1.4 Kratek opis
Nakup in instalacija SNOM mikroskopa
II.1.6 Informacije o sklopih
Naročilo je razdeljeno na sklope: Ne
II.2 Opis
II.2.1 Naslov
II.2.2 Dodatna(-e) koda(-e) CPV
Glavni besednjak Dopolnilni besednjak
38510000
II.2.3 Kraj izvedbe
SI - SLOVENIJA
Glavna lokacija ali kraj izvedbe:
II.2.4 Opis javnega naročila
Predmet javnega naročila je nabava in instalacija SNOM mikroskopa (vrstični optični mikroskop v bližnjem polju), ki ga bomo uporabljali za aktivnosti naše programske skupine Tankoplastne strukture in plazemsko inženirstvo. Omogočil bo karakterizacijo optičnih in morfoloških lastnosti materialov na nanometrskem nivoju. Konkretno bomo izboljšali vedenje o morfoloških spremembah na plazemsko obdelanih materialih, kot so biomateriali, polimeri, kovinske zlitine, tanke zaščitne plasti, grafenski materiali, defekti v trdih prevlekah in biološke celice.
II.2.5 Merila za izbiro ponudbe
Cena – Ponder:

II.2.7 Trajanje naročila ali okvirnega sporazuma
Trajanje v mesecih: 12
To naročilo je mogoče podaljšati: Ne
II.2.12 Informacije o elektronskih katalogih
II.2.13 Informacije o sredstvih EU
Naročilo se nanaša na projekt in/ali program, ki se financira s sredstvi EU: Ne


Oddelek III: Pravne, ekonomske, finančne in tehnične informacije

III.3 Pogoji za udeležbo in pogoji ki se nanašajo na javno naročilo
Merila za izbor, kot so navedena v razpisni dokumentaciji.


Oddelek IV: Postopek

IV.1.3 Informacije o okvirnem sporazumu
IV.1.5 Informacije o pogajanjih
V postopek so vključena pogajanja: Ne
IV.1.6 Informacije o elektronski dražbi
IV.2.2 Rok za prejem ponudb ali prijav za sodelovanje
21.05.2020   10:00
IV.2.6 Minimalni časovni okvir, v katerem mora ponudnik zagotavljati veljavnost ponudbe
Ponudba mora biti veljavna do 31.08.2020
IV.2.7 Način odpiranja ponudb
Datum in ura: 21.05.2020   10:01
Kraj: http://eponudbe.si/ pri objavi tega naročila


Oddelek VI: Dopolnilne informacije

VI.2 Informacije o elektronskem poteku dela
Sprejeto bo elektronsko izdajanje računov.
Uporabljeno bo elektronsko plačilo.
VI.3 Dodatne informacije
Rok za sprejemanje ponudnikovih vprašanj: 14.05.2020   10:00
VI.5 Datum pošiljanja tega obvestila
30.04.2020



   Dodatna pojasnila
Datum objave: 07.05.2020   13:26
VPRAŠANJE
1) Zahtevate SNOM s koničnimi vlakni. Ali lahko namesto tega dobavimo instrument s SNOM senzorji z naslednjim opisom:
"equipped with unique, patented, high-quality micro-fabricated SNOM sensors, consisting of a silicon cantilever with a hollow aluminum pyramid as a tip. The SNOM aperture is at the apex of the pyramid. The laser light used for optical imaging is focused into the backside of the hollow tip and then onto the sample. Due to the wide opening angle of the hollow pyramid, the transmission coefficient is much higher than that of fiber probes of the same diameter. An established and proven method of mass-production enables tips with apertures of varying size to be specified according to customers individual requirements. Cantilever SNOM sensors are, unlike fiber tips, very robust and flexible in the z-direction and allow the beam deflection technique to precisely control the tip-sample distance."?

2) Kateri SNOM način naj ponudimo? Presevni ali v refleksiji (transmission/reflection)? Glede na opis vaših vtorcev sklapamo, da boste imeli tako prosojne, kakor tudi neprosojne vzorce, torej verjetno potrebujete oba načina.


ODGOVOR
1) Da, lahko se dobavi tudi SNOM senzor, ki ima votlo konico iz aluminija (ang. »hollow pyramid as a tip«).

2) Zahtevamo samo refleksivni način delovanja za SNOM mikroskopijo (reflection mode of SNOM).


Datum objave: 07.05.2020   13:29
VPRAŠANJE
Glede nosilca vzorcev zahtevate: Nosilec naj omogoča vgradnjo celice za delo v tekočinah, kontrolo temperature vzorca in vgradnjo nosilcev vzorca poljubnih oblik.

Ali moramo v ponudbeno ceno vključiti tudi celico za delo v tekočinah in sistem za gretje/hlajenje vzorcev? Če da, katero temperaturno območje želite?

ODGOVOR
Odgovor je negativen. V sistem ni treba vključiti celico za delo v tekočinah ali sistem za gretje/hlajenje vzorcev.
Zahteva je, da sistem dopušča kasnejšo vgradnjo celice za delo v tekočinah ali sistema za gretje/hlajenje vzorcev.



Datum objave: 12.05.2020   10:14
VPRAŠANJE
1) Zahtevate spektroskopske načine: merjenje odvisnosti sila/razdalja, amplitude oscilacij/razdalja, tok/razdalja, napetost/razdalja, sila/razdalja, amplitude oscilacij/napetost

Ker ne razumemo čisto natančno, kaj želite, prosimo za natančnejši opis/definicijo vsake posamezne tehnike,, kakšne so vaša pričakovanja in aplikacije.

2) Zahtevate antivibracijsko omaro za akustično in vibracijsko izolacijo instrumenta, ki naj vključuje pasivni blažilni sistem s plavajočo ploščo iz marmorja.
Glede na relativno zahtevne tehnike, kjer so vibracije lahko moteče, je po našem mnenju edino zadovoljiva aktivna antivibracijska zaščita, ne samo rigidna tažka plošča.

Ali moramo torej ponudniki ponuditi aktivno antivibracijsko zaščito (mizico)?
Ali lahko ponudimo aktivno antivibracijsko zaščito?


ODGOVOR
1) Podrobnejši opis spektroskopskih načinov

Spektroskopski načini:
Merjenje odvisnosti sila/razdalja (Force/distance): Meritev sile (odklona ročice) v odvisnosti od razdalje med konico in površino vzorca (0 1 mikron) brez DC napetosti na konici
Merjenje odvisnosti amplitude oscilacij/razdalja (Oscillation Amplitude/distance): Meritev spremembe amplitude oscilacije ročice v odvisnosti od razdalje med konico in površino vzorca brez DC napetosti na konici
Merjenje odvisnosti tok/razdalja (Current Distance): Meritev prepuščenega električnega toka skozi konico v odvisnosti od razdalje med konico in površino vzorca (0 1 mikron) brez DC napetosti na konici
Merjenje odvisnosti tok/napetost Current Voltage): Meritev prepuščenega električnega toka med konico in površino vzorca v odvisnosti od DC napetosti na konici (od -10 do +10 V) pri konstantni razdalji med konico in površino
Merjenje odvisnosti sila/napetost (Force Voltage): Meritev sile (odklona ročice) v odvisnosti od DC napetosti na konici (od -10 do +10 V) pri konstantni razdalji med konico in površino.
Merjenje odvisnosti amplitude oscilacij/napetost (Oscillation Amplitude Voltage): Meritev spremembe amplitude oscilacije ročice v odvisnosti od DC napetosti na konici (od -10 do +10 V) pri konstantni povprečni razdalji med konico in površino.


Spectroscopy modes:
Force Distance Spectroscopy: Measurements of the force (cantilever deflection) as a function of the distance between the tip and the surface (0 1 micron) without DC bias voltage on the tip.
Oscillation Amplitude Distance Spectroscopy: Measurement of the change of the oscillation amplitude (dumping) of the tip as a function of the distance between the tip and the surface without DC bias voltage on the tip.
Current Distance Spectroscopy, Measurements of the electrical current through the tip as a function of the distance between the tip and the surface (0 1 micron) at the constant DC bias voltage on the tip
Current Voltage Spectroscopy, Measurements of the current as a function of the bias voltage (from -10 to +10 V) of the tip at the constant distance (contact mode) between the tip and the surface
Force Voltage Spectroscopy, Measurements of the force (cantilever deflection) as a function of the bias voltage (from -10 to +10 V) of the tip at the constant distance (contact mode) between the tip and the surface.
Oscillation Amplitude Voltage Spectroscopy: Measurement of the change of the oscillation amplitude (dumping) of the tip as a function of the DC bias voltage (from -10 to +10 V) of the tip at constant distance between the tip and the surface.


2) Zadostuje, če ponudite antivibracijsko zaščito, ki naj vsebuje pasivni blažilni sistem. Ni zahtevana aktivna antivibracijska zaščita.




Datum objave: 14.05.2020   11:16
VPRAŠANJE
Ali za spektroskopske načine (merjenje odvisnosti sila/razdalja, amplitude oscilacij/razdalja, tok/razdalja, napetost/razdalja, sila/razdalja, amplitude oscilacij/napetost) zahtevate meritev v eni točki (več posameznih točkah) na vzorcu ali scan po celotni površini?

ODGOVOR
Za spektroskopske meritve se zahteva meritev v več posameznih točkah na vzorcu, ki jih definiramo pred začetkom meritve. Ni potrebno izvajati scana po celotni površini.